功能簡(jiǎn)介:
本機(jī)可以根據(jù)用戶的要求,選配測(cè)試二極管、發(fā)光管、穩(wěn)壓管、橋堆、雙二極管五大類器件的全部或部分。
Ø 二極管、發(fā)光管、橋堆、雙二極管測(cè)試:
測(cè)試VF、IR、VDR的常溫值或測(cè)試VF、IR、VDR的常溫值、高溫值、常溫與高溫變化量(高溫測(cè)試不需要外加烘箱)。
Ø 穩(wěn)壓管測(cè)試:
測(cè)試VF、IR、VZ、RZ的常溫值或測(cè)試VF、IR、VZ、RZ的常溫值、高溫值、常溫與高溫變化量(高溫測(cè)試不需要外加烘箱)。
本機(jī)特色:
利用“75”期間快速篩選成果研制,可取代直流老化。方法是本機(jī)對(duì)器件的VF、IR、VDR(或VZ)進(jìn)行常溫測(cè)試后,對(duì)器件施加幾秒鐘的超穩(wěn)態(tài)額定電流,使器件結(jié)溫迅速接近或達(dá)到*高允許結(jié)溫TjM,再馬上檢測(cè)器件VF、IR、VDR(或VZ) 的高溫值及常溫與高溫的變化量,利用器件熱敏參數(shù)作為失效判據(jù),剔除熱阻大,瞬間熱開路,高溫漏電流大等熱不穩(wěn)定性器件。同時(shí),所施加的超穩(wěn)態(tài)額定電流模擬了被試管實(shí)際使用時(shí)可能出現(xiàn)的浪涌電流等應(yīng)力,以考核被試管承受沖擊的能力。
主要功能:
Ø 中文菜單式界面,操作十分簡(jiǎn)便。
Ø 器件的型號(hào)、測(cè)試條件及判據(jù)可保存在系統(tǒng)中,并能修改。測(cè)試時(shí)只需選擇器件型號(hào)即可進(jìn)入連續(xù)檢測(cè),測(cè)試口有否被測(cè)器件自動(dòng)識(shí)別。
Ø 自動(dòng)檢測(cè)器件VF、IR、VDR(或VZ、RZ)的常溫值、高溫值及常溫與高溫變化量,并能任意選測(cè)全部或部分參數(shù),整個(gè)過程只需4秒左右一次性完成。若只測(cè)常溫參數(shù),每只器件只需0.6秒左右。
Ø 所有測(cè)試結(jié)果同時(shí)液晶數(shù)字顯示(5.7寸),并標(biāo)識(shí)累計(jì)測(cè)試總量;超標(biāo)器件自動(dòng)聲光報(bào)警,并顯示報(bào)警信息。
Ø 5. 自動(dòng)統(tǒng)計(jì)每項(xiàng)參數(shù)測(cè)試結(jié)果的*大值、*小值、平均值。
Ø 器件型號(hào)、測(cè)試條件、失效判據(jù)、檢測(cè)結(jié)果、測(cè)試時(shí)間及器件編號(hào),可通過打印機(jī)打印輸出,或通過電腦串行口保存在電腦中。超標(biāo)器件自動(dòng)標(biāo)識(shí)。
測(cè)試二極管、橋堆技術(shù)指標(biāo):
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參 數(shù) 名 稱
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測(cè) 試 范 圍
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測(cè) 試 條 件
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正向壓降VF
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0.1-2V
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1mA-20A
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反向漏電IR
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0.1uA-1mA
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5-1200V
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反向壓降VDR
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20-1200V
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1uA-1mA
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加溫電流 IT : 0.1A - 20A 加溫時(shí)間T : 0 -10S
測(cè)試穩(wěn)壓管技術(shù)指標(biāo):
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參 數(shù) 名 稱
|
測(cè) 試 范 圍
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測(cè) 試 條 件
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正向壓降VF
|
0.1-2V
|
1mA-10A
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反向漏電IR
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0.1uA-1mA
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1-250V
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穩(wěn)壓值VZ
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1—250V
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1—100mA
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動(dòng)態(tài)電阻RZ
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10Ω—5KΩ
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1—100mA
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加溫電流 IT : 0.1A - 10A 加溫時(shí)間T : 0 -10S
測(cè)試發(fā)光管技術(shù)指標(biāo):
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參 數(shù) 名 稱
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測(cè) 試 范 圍
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測(cè) 試 條 件
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正向壓降VF
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0.1-5V
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1mA-1A
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反向漏電IR
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0.1uA-1mA
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1—100V
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反向壓降VDR
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1—100V
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1uA-1mA
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加溫電流 IT : 0.01A - 1A 加溫時(shí)間T : 0 -10S
測(cè)試雙二極管技術(shù)指標(biāo):
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參 數(shù) 名 稱
|
測(cè) 試 范 圍
|
測(cè) 試 條 件
|
|
正向壓降VF
|
0.1-2V
|
1mA-20A
|
|
反向漏電IR
|
0.1uA-100mA
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20-250V
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|
反向壓降VDR
|
1-250V
|
1uA-100mA
|
加溫電流 IT : 0.1A - 20A 加溫時(shí)間T : 0 -10S
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